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10μHz से 300GHz तक उच्च आवृत्ति मापन और परावैद्युतांक व एंटीना मापन प्रणाली

अवलोकन

10μHz से 300GHz (अत्यंत निम्न आवृत्ति से लेकर VHF, UHF, माइक्रोवेव, मिलीमीटर वेव और सबमिलीमीटर वेव तक) की आवृत्ति रेंज के लिए उच्च-आवृत्ति मापन तकनीक का विकास, निर्माण और परीक्षण। सामग्रियों की परावैद्युतता (dielectric constant), पारगम्यता (permeability), चालकता (conductivity), परिरक्षण प्रभाव (shielding effect) और रेडियो तरंग अवशोषण दर के मापन प्रणालियाँ, तथा एंटीना, रेडार, LiDAR और सोनार के मूल्यांकन प्रणालियाँ — सभी आवश्यकतानुसार छोटी मात्रा से डिज़ाइन, निर्मित और परीक्षित की जाती हैं। ठोस, शीट, फिल्म, पाउडर, तरल और बहुस्तरीय संरचनाओं सहित लगभग सभी सामग्री रूपों के लिए उपयुक्त। मिलीमीटर वेव बैंड में परावैद्युत विशेषता मापन (JIS R 1660-2) तथा रेडियो तरंग अवशोषक की परावर्तन क्षीणन मापन (IEC 62431 / JIS R 1679) हेतु मानकीकृत मापन पद्धतियाँ उपलब्ध हैं।

परावैद्युतता मापन विधियाँ और आवृत्ति कवरेज

तकनीकी विशेषताएँ

  • परावैद्युतता एवं परावैद्युत क्षति (dielectric loss) मापन (बहुविध पद्धतियाँ): मापन आवृत्ति और सामग्री के अनुसार — कैविटी रेज़ोनेटर विधि (TM प्रकार: 200MHz–10GHz, TE प्रकार: 10–40GHz), खुला रेज़ोनेटर (20–330GHz, कम-क्षति सामग्रियों के लिए उच्च परिशुद्धता), मुक्त-स्थान आवृत्ति-परिवर्तन विधि (2.6–325GHz, मोटे नमूनों के लिए), S-पैरामीटर एवं प्रोब विधि (10MHz–90GHz, उच्च-क्षति सामग्रियों के लिए), और संधारित्र (capacitance) विधि (1Hz–1GHz) का उपयोग किया जाता है। सापेक्ष परावैद्युतांक और परावैद्युत क्षति कोण (tanδ) दोनों मापे जाते हैं।
  • रेडियो तरंग अवशोषण एवं परिरक्षण मूल्यांकन: रेडियो तरंग अवशोषकों की परावर्तन क्षीणन माप, परिरक्षण प्रभाव (SE) माप, और संचरण क्षीणन माप। मानकीकृत मापन पद्धतियों के अनुरूप।
  • चुंबकीय विशेषता मापन: पारगम्यता मापन प्रणाली, उच्च-आवृत्ति चुंबकीय मापन (100kHz–10GHz)।
  • एंटीना एवं रेडार मापन: रेडार क्रॉस सेक्शन (RCS) मापन, एंटीना मूल्यांकन, मिलीमीटर वेव बैंड मापन। वाहन अनुप्रयोगों हेतु बम्पर (रेडोम) मूल्यांकन, LiDAR परीक्षण, ADAS मूल्यांकन और अल्ट्रासोनिक सोनार परीक्षण।
  • निम्न-आवृत्ति एवं विद्युत-रासायनिक मापन: इलेक्ट्रोकेमिकल इम्पीडेंस मापन (1mHz–200kHz), विशिष्ट चालकता एवं इन्सुलेशन प्रतिरोध माप, ESR/EPR (इलेक्ट्रॉन स्पिन रेज़ोनेंस) मापन प्रणाली।
  • उच्च-आवृत्ति मापन उपकरण: 110GHz वेक्टर नेटवर्क एनालाइज़र, 110GHz स्केलर नेटवर्क एनालाइज़र, 80GHz स्पेक्ट्रम एनालाइज़र, 70GHz ऑसिलोस्कोप आदि उपलब्ध हैं।
  • अनुबंध मापन सेवाएँ: उपकरण विक्रय के अतिरिक्त, उपलब्ध सुविधाओं का उपयोग करते हुए सामग्रियों एवं उपकरणों के लिए अनुबंध आधारित मापन सेवाएँ भी प्रदान की जाती हैं।

उच्च-आवृत्ति मापन के विषय और अनुप्रयोग क्षेत्र

संभावित उपयोग एवं अनुप्रयोग क्षेत्र

  • 5G/6G तथा उच्च मिलीमीटर वेव बैंड वायरलेस में उपयोग होने वाले सब्सट्रेट, फिल्म और रेडियो तरंग अवशोषक सामग्रियों का परावैद्युत विशेषता मूल्यांकन।
  • वाहन रेडार, LiDAR और सोनार की संवेदन क्षमता का मूल्यांकन, तथा रेडोम (बम्पर) संचरण विशेषताओं का परीक्षण।
  • एनेकोइक चैंबर और उपकरण आवरणों की रेडियो तरंग अवशोषण व परिरक्षण डिज़ाइन हेतु सामग्री मूल्यांकन।
  • चुंबकीय सामग्रियों एवं कम-क्षति सामग्रियों की उच्च-आवृत्ति विशेषताओं का मूल्यांकन।
  • विश्वविद्यालयों, अनुसंधान संस्थानों और उद्यमों के अनुसंधान एवं विकास कार्यों हेतु अनुबंध मापन तथा विशेष-निर्मित मापन प्रणालियाँ।

सेवा कवरेज

  • मापन विषय: सापेक्ष परावैद्युतांक एवं परावैद्युत क्षति कोण / पारगम्यता / चालकता एवं इन्सुलेशन प्रतिरोध / रेडियो तरंग अवशोषण दर एवं परावर्तन क्षीणन / परिरक्षण प्रभाव / RCS एवं एंटीना / इलेक्ट्रोकेमिकल इम्पीडेंस
  • लक्षित सामग्रियाँ: ठोस, शीट, फिल्म, पाउडर, तरल, बहुस्तरीय संरचनाएँ आदि
  • आवृत्ति रेंज: 10μHz–300GHz
  • प्रदाय स्वरूप: मापन प्रणालियों का डिज़ाइन एवं निर्माण (छोटी मात्रा व विशेष ऑर्डर स्वीकार्य), अनुबंध मापन सेवाएँ
  • मानकीकरण: परावैद्युत विशेषता एवं रेडियो तरंग अवशोषण की मापन पद्धतियाँ JIS और IEC मानकों में शामिल हैं। मानक निर्माण समितियों में भागीदारी का अनुभव।

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